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作 者:何崇智[1] 蔡明杰[1] 杨志军[1] 尤世武[1]
出 处:《分析测试技术与仪器》1994年第1期12-16,共5页Analysis and Testing Technology and Instruments
摘 要:由Philips引进的PW1700X射线衍射仪织构测量系统只能用反射法,按螺旋线扫测极目数据,测绘极角。α≤85°的不完整极图。经功能开发后,建立了织构分析测算系统,织构分析应用软件包,包括不完整极图测量与ODF(取向分布函数)计算,回算全极图与反极图,可彩色屏显考贝,并能进行织构的定量分析。适用于立方和六方品系多晶织构材料分析。近两年应用表明,软件功能优异。This paper introduces briefly the transformation of the PW 1700 Powder X-Ray Diffractometer for the texture analysis the building up of the texture analysis application software which consists of : (1) the calculation of ODF with three imcomplete pole figure,(2) the recalculation of pole figure and inverse pole figure with ODF and (3) the quantitiative analysis. An the controlling, data collection and processing, results and picture screen displaying, colored drawing and et al are accomplished automatically.
关 键 词:PW 1700 X射线衍射仪 织构分析 应用软件包 软件开发 多晶材料 取向分布函数
分 类 号:TH838.1[机械工程—仪器科学与技术]
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