微通道极电子冲刷研究  

Electronic Scrubbing Study of Microchannel Plates

作　　者：周旭辉[1] 刘世才[1] 陈德炎[1] 徐宗和 

机构地区：[1]南京理工大学电子工程与光电技术学院

出　　处：《南京理工大学学报》1993年第4期6-9,共4页Journal of Nanjing University of Science and Technology

摘　　要：该文对应用于Ⅱ代微光像增强器的微通道板进行了电子冲刷和寿命实验的研究。介绍了专门研制的试验装置,对冲刷规程作了探讨并对测试结果进行了分析,得出了有益的结论。This paper studies the electron scrubbing and life test ofmicrochannel plates by use of second generation image intensifiers,presents the apparatus specially designed for this test, inquires intothe scrubbing regulations, analyses the test recults, and draws a use-ful conclusion.

关 键 词：电子 冲刷 寿命试验 微通道板 

分 类 号：TN14[电子电信—物理电子学]