用耦合波方法研究取样光栅的衍射特性  

Analysis of diffraction properties for a beam-sampling grating with coupled-wave theory

作　　者：杨乾锁[1] 吴宝根[1] 竺乃宜[1] 张恒利[1] 

机构地区：[1]中国科学院力学研究所,北京100080

出　　处：《强激光与粒子束》2000年第B11期109-112,共4页High Power Laser and Particle Beams

基　　金：国家863激光技术领域资助课题(863-410-4-05)

摘　　要：介绍了利用耦合波理论编写计算光栅衍射特性程序的基本思想和主要步骤。利用编写的程序计算并分析了一种用于激光取样光栅 TE波和 TM波的衍射特性。The principle and the main steps of the program based on coupled-wave theory for calculating the diffraction property of gratings are introduced. The diffraction properties of TE and TM polarizations for a beam-sampling grating are numerically analyzed with this program.

关 键 词：耦合波理论 衍射光栅 取样光栅 

分 类 号：TH744.5[机械工程—光学工程] O431.1[机械工程—仪器科学与技术]