关于MIL-STD2164中的无故障检验时间确定公式的讨论  

Discuss the ESS Defect-Free Test Time Used in MIL-STD 2164

作　　者：宋文治[1] 

机构地区：[1]北京强度环境研究所,100076

出　　处：《强度与环境》1993年第1期14-18,共5页Structure & Environment Engineering

摘　　要：本文给出了环境应力筛选无故障检验通过概率公式,讨论了检验窗的概念及其应用。The formula of the passing ESS defect-free test protalility is given in this paper. The concept and application of the defect-free verification window is discussed also.

关 键 词：环境应力筛选 检验时间 电子产品 

分 类 号：TN06[电子电信—物理电子学]