能散X射线荧光光谱法测定烧结预配料中铁硅钙  

Energy Dispersion XRFS Determination of Iron Silicon and Tungsten in Sintered Preparatory Burden

作　　者：王朝斗[1] 张作政[1] 万爱伏[1] 郭晓明 

机构地区：[1]安钢集团水冶钢铁公司,安阳455133 [2]上海精谱仪器有限公司

出　　处：《理化检验（化学分册）》2004年第12期729-730,共2页Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)

关 键 词：化学成分 分析 国产 标准曲线 荧光 研究 样品 预配料 EDXRF 生产控制 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学] TQ172.614[理学—化学]