2004第64CEF暨第三届国际电子测试与测量研讨会  

出　　处：《测控技术》2005年第1期28-28,共1页Measurement & Control Technology

摘　　要：电子界传统盛会CEF首度移师浦东，2004年11月16～17日第三届国际电子测试与测量研讨会也拉开帷幕。此次研讨会在前两届成功举办的基础上再度扩容，再攀新高。

关 键 词：电子测试 国际 浦东 研讨会 成功 扩容 基础 CEF 举办 

分 类 号：TB383[一般工业技术—材料科学与工程] F407.63[经济管理—产业经济]