基于双MCU的断路器性能测试仪设计  

Design of Property Detector for Interrupter Based on 2-MCU

作　　者：王阿娣[1] 景国良[1] 

机构地区：[1]江苏科技大学电子信息学院,江苏镇江212003

出　　处：《华东船舶工业学院学报》2004年第6期43-46,共4页Journal of East China Shipbuilding Institute(Natural Science Edition)

基　　金：企业协作技术攻关课题(校编2002303)

摘　　要：介绍一种自行设计的万能式断路器性能测试仪,该测试仪用于测试万能式断路器中的配套部件"智能控制器"的性能指标,该测试仪电路采用双单片机89C2051、89C51、HD7279、AD574等组成,经生产现场使用,性能优越,具有实用价值。Introduces a self-designed multiple-purpose property detector for interrupter. It is used for testing the performance indexes of intellectual controller that is a kit of multiple-purpose interrupter. The circuits are composed of double chip calculator 89C2051, 89C51, HD7279, AD574 etc. Through use in workshop, it shows that the detector performance is excellent and practical.

关 键 词：单片机 断路器 性能测试 

分 类 号：TP336[自动化与计算机技术—计算机系统结构]