E^2PROM的测试技术  

作　　者：杨筱莉[1] 

机构地区：[1]机电部东北微电子研究所,110032

出　　处：《微处理机》1993年第1期26-28,共3页Microprocessors

摘　　要：通常 E^2PROM 的测试需要大量的图形和较长的测试时间。本文以2817A为例,介绍用 DIC-8032测试系统在 E^2PROM 测试中,如何将测试方法与测试技巧结合起来,优化测试图形,以达到用最短的写入时间,最少的擦写次数完成其全功能的测试。

关 键 词：E^2PROM 测试系统 只读存储器 

分 类 号：TP333.706[自动化与计算机技术—计算机系统结构]