用相位多普勒效应同时测量微粒的速度与尺寸  

作　　者：宋菲君[1] 

机构地区：[1]中国科学院大恒公司,北京100080

出　　处：《物理》1993年第8期487-492,共6页Physics

摘　　要：本文评述了测量微粒的尺寸和运动速度的意义以及各种方法的优缺点，回顾了同时测量微粒速度和尺寸的相位多普勒测速（ＰＤＡ）技术的发展历史，井且在几何光学近似模型的基础上，比较详细地介绍了ＰＤＡ的原理及物理图像．

关 键 词：微粒 速度 尺寸 测量 多普勒效应 

分 类 号：O436.2[机械工程—光学工程]