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作 者:严隽珏[1] 白传勇 杨威生[1] 王宇刚[2] 赵渭江[2] 虞福春 翟鹏济[3] 唐孝威[3]
机构地区:[1]北京大学物理系,北京100871 [2]北京大学技术物理系,北京100871 [3]中国科学院高能物理研究所,北京100080
出 处:《物理学报》1993年第6期1027-1033,共7页Acta Physica Sinica
摘 要:用扫描隧道显微镜研究石墨被Au离子轰击后的表面损伤。实验结果表明:用低剂量(1×10^(12)ion/cm^2)530keV的Au^+和4.5MeV的Au^(++)均匀轰击石墨。在石墨表面所产生的最显著的损伤是单个入射Au离子造成的小丘,小丘的横向平均线度约为1.8nm。从高分辨的扫描隧道显微镜图象可以看出,这种损伤往往伴有多种形式的3^(1/3)×3^(1/3)R30°的超结构(R为石墨的晶格常数),而且这种超结构从损伤的中心向外逐渐衰减,衰减的范围最远可扩展至1—3nm不等。此外,在石墨表面还可以看到许多横向线度更小的小丘,分析表明它们可能是由次级离子或原子溅射造成的损伤。In this work we investigate damages on graphite surface gercerated by bombardment with 530 KeV Au+ or 4.5 MeV Au++ at a dose of 1×10^(12) cm-2. The most significant damages are hillocks with a diameter around 1. 8 nm, as seen from our STM images. Very often they are surrounded by variable 1/3×1/3R30° superstructures of graphite, which die away within a distance of 1 to 3 nm. The density of the hillocks is in good agreement with the ion dose, indicating that they were induced by individual incident gold ions. Besides, in the STM images of higher magnifications there exist many smaller hillocks, which might be caused by the secondary ions or atoms.
分 类 号:TN305.3[电子电信—物理电子学]
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