基于VEE的集成电容自动测试系统  

Integrated Capacitance Automatic Testing System Based on VEE

作　　者：王强[1] 李怀洲[2] 

机构地区：[1]上海交通大学电子信息学院,上海200030 [2]上海理工大学光电学院,上海200093

出　　处：《仪表技术》2005年第1期38-39,共2页Instrumentation Technology

摘　　要：介绍使用AgilentVEE软件在IEEE488总线上对仪器进行控制,进而建立的以PC机为中心的集 成电容自动测试系统。This paper Introduces an ATS. It uses VEE software and the IEEE-488 bus to control instrument, and can test integrated-capacitors.

关 键 词：自动测试系统 GP-IB总线 VEE 

分 类 号：TM934[电气工程—电力电子与电力传动]