数字系统的边界扫描设计技术及应用  

Design Technique and Application of Boundary Scan in Digital System

作　　者：汪小会[1] 

机构地区：[1]解放军电子工程学院,安徽合肥230037

出　　处：《现代电子技术》2005年第5期8-9,13,共3页Modern Electronics Technique

摘　　要：用边界扫描设计技术可大大改善数字系统的可测试性。本文就边界扫描芯片及应用进行了探讨。As the design technique of boundary scan can improve much testability in digital system, this paper discussed the boundary scan chip as well as application

关 键 词：数字系统 边界扫描 设计技术 寄存器 

分 类 号：TP334.22[自动化与计算机技术—计算机系统结构]