扫描电子显微镜在材料分析和研究中的应用  

Applications of Scanning Electronic Microscope in Material Analysis and Research

作　　者：蔡璐[1] 

机构地区：[1]南京工程学院材料工程系,江苏南京210013

出　　处：《南京工程学院学报（自然科学版）》2003年第4期39-42,共4页Journal of Nanjing Institute of Technology(Natural Science Edition)

摘　　要：简要介绍了扫描电子显微镜的功能及特点 ,阐述了这种检测仪器在工程材料领域中的用途 。The paper introduces functions and characteristics of scanning electronic microscope, illustrates its application in engineering materials, and explains its contribution to the development of materials science.

关 键 词：扫描电子显微镜 材料分析 电子光学仪器 信号 断口分析 镀层表面形貌分析 深度检测 显微组织 超微尺寸材料 

分 类 号：TB303[一般工业技术—材料科学与工程] TN16[电子电信—物理电子学]