33例高热惊厥患儿脑电图观察(附66例患儿家属脑电图分析)  

作　　者：刘惠哲[1] 魏金铠[1] 马晓梅[1] 

机构地区：[1]河北省职工医学院附属医院,071000

出　　处：《河北职工医学院学报》2000年第2期17-18,共2页Journal of Hebei Medical College for Continuing Education

摘　　要：目的：探讨高热惊厥患儿的脑电图特点及其规律性变化。方法：反复检查患儿发热期与恢复期脑电图及其双亲脑电图。结果：患儿高热惊厥脑电图异常率以初次发作者低，反复发作者高。结论：高惊厥有一定遗传倾向。

关 键 词：高热惊厥 患儿家属 脑电图分析 观察 反复发作 脑电图异常 发热期 作者 结论 特点 

分 类 号：R720.597[医药卫生—急诊医学] R742.1[医药卫生—儿科]