半导体激光器的低频电噪声谱密度和器件的可靠性  

Low-frequency noise spectral density and reliability of semiconductor laser

作　　者：石家纬[1] 金恩顺 马靖 戴逸松[2] 张新发[2] 

机构地区：[1]集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学分区,长春130023 [2]吉林工业大学,长春130021

出　　处：《中国激光》1993年第10期729-732,共4页Chinese Journal of Lasers

基　　金：集成光电子学国家重点联合实验室资助

摘　　要：本文给出了半导体激光器的低频电噪声谱密度和器件可靠性关系的实验结果。The experimental results of semiconductor lasers about the relations between low-frequency noise spectral density and reliability of devices are reported in this paper.

关 键 词：激光器 噪声 可靠性 半导体激光器 

分 类 号：TN248.4[电子电信—物理电子学]