局部表面电导率法及其应用  

作　　者：关志成[1] 崔国顺[1] 董颖 

机构地区：[1]北京清华大学电机系

出　　处：《电瓷避雷器》1994年第2期20-25,共6页Insulators and Surge Arresters

摘　　要：局部表面电导率是表征绝缘子脏污程度的一种新参数。由于此参数的测量条件和绝缘子的运行条件一致，所以它能可靠地反映绝缘子的真实脏污程度，和污闪电压的相关性好。此外，此方法的测量过程不破坏污层，能较方便地测出积污在绝缘子表面的分布规律。本文介绍了对多种自然污秽绝缘子局部表面电导率的实测结果，比较了常规方法测出的盐密值和有效盐密值以及它们和污闪电压间的关系。试验结果表明，局部表面电导率法能更真实地反映绝缘子的实际脏污程度。

关 键 词：绝缘子 污秽度 局部表面 电导率 

分 类 号：TM216.06[一般工业技术—材料科学与工程]