关于Ni（100）面上C复盖的LEED和STM研究  

LEED and STM Study on the C/Ni(100)System

作　　者：张兆祥[1] 

机构地区：[1]北京大学无线电系

出　　处：《电子器件》1994年第3期120-122,共3页Chinese Journal of Electron Devices

摘　　要：本文叙述了Ｃ／Ｎｉ（１００）系统的ＬＥＥＤ和ＳＴＭ的研究结果，并讨论了该系统的表面结构模型。It is described the study of C/Ni(100)system by LEED and STM,and discussed thesurface structure model of the C/Ni(100)system.

关 键 词：表面结构 低能电子衍射 扫描隧道显微镜 

分 类 号：TH838.1[机械工程—仪器科学与技术] TN16[机械工程—精密仪器及机械]