全反射X-射线荧光光谱的原理和应用  

Principles and Applications of Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry

作　　者：陈远盘[1] 

机构地区：[1]中国有色金属工业总公司矿产地质研究院,桂林541004

出　　处：《分析化学》1994年第4期406-414,共9页Chinese Journal of Analytical Chemistry

摘　　要：本文综述全反射X-射线荧光光谱分析的进展、原理、仪器和应用。参考文献67篇。The advances, principles, Instruments and applications of total reflection X-ray fluorescence spectrometry are reviewed with 67 references.

关 键 词：全反射 X射线 荧光光谱 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学]