纳米级分辨的光子扫描隧道显微镜的应用研究  

作　　者：郭宁[1] 吴世法[1] 夏德宽[1] 初世超[1] 徐绍华[1] 高崧[1] 姚骏恩[1] 商广义[1] 李成基[1] 贺节 

机构地区：[1]大连理工大学,中国科学院北京电子显微镜实验室

出　　处：《光电子技术与信息》1994年第2期16-21,共6页Optoelectronic Technology & Information

摘　　要：本文对光子扫描隧道显微镜（ＰＳＴＭ）显微成像机理、成像规律做了较为系统的论述，针对具体的物理模型进行数值模拟计算，得到了与实际探测相一致的场分布规律。采用自行研制的ＰＳＴＭ的显微实验系统对多种样品进行了表面显微成像研究，获得了关于样品表面三维立体图像信息。通过多种图像处理手段对原始图像进行后期处理，得到了更具视觉效果、更为逼真的样品表面图像，为其广泛的应用奠定了技术基础。

关 键 词：光子扫描 隧道显微镜 纳米级 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程]