波片相位延迟量精密测量新方法  

A New Method for Measuring Phase Delay of Wave Plate

作　　者：徐文东[1] 李锡善[1] 

机构地区：[1]中国科学院上海光学精密机械研究所

出　　处：《光学学报》1994年第10期1096-1101,共6页Acta Optica Sinica

摘　　要：利用旋转波片的偏振干涉技术，结合机械－光学旋光调制器对光相位的调制，通过判断方波信号的有无，可精密地确定被测波片相位延迟的数值．机械－光学旋光调制器的使用，大大简化被测样品和测试装置中四分之一波片光轴方位的调整，也显著地提高了装置测量的灵敏度和波长测量范围．对环境不作特殊控制，依据本方法建立的测试装置的相对测量误差可小于千分之五．The phase delay of wave plate can be accurately measured by using a mechanics-optics rotatory modulator to modulste the phase between two interference OPtical borns. The mechanics-optics modulator makes it simple to adjust the optical axis of the quarter wave plste in the instrument and that of the sample being measured. In ordinary condition, the instrument bssed on this method has relative error less than 5%.

关 键 词：光调制器 调相 相位延迟 波片 测量 

分 类 号：O436.3[机械工程—光学工程]