对VXI的一份评价报告  

在线阅读下载全文

作  者:徐建南[1] 

机构地区:[1]电子科技大学CAT室

出  处:《国外电子测量技术》1994年第2期10-11,5,共3页Foreign Electronic Measurement Technology

摘  要:自从1987年首次介绍VXI总线以来,有人预言它将会帮助测试工程师所面临的许多问题。更高速的系统;更易组装;更宽的选择范围;更低的价格以及标准结构的进一步小型化,是VXI总线预期的目标。 自从五个竞争对手联合推出这种通用结构以来,已经五年多了——这么长的时间,我们足以对它作一个评判。面对如此高的期望,它是否取得了进展。它是如何作的呢?作为一个学者,自然完全站在公正的立场上。

关 键 词:VXI总线 测试 评价报告 

分 类 号:TP336[自动化与计算机技术—计算机系统结构]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象