Bi_2Sr_2CaCu_2O_（y－x）F_x超导体的正电子寿命研究  

Positron lifetime studies of Bi_2Sr_2CaCu_2O_(y-x)F_x superconductors

作　　者：史志强[1] 钞曦旭[1] 吴令芸 

机构地区：[1]陕西师范大学

出　　处：《核技术》1994年第10期624-626,共3页Nuclear Techniques

基　　金：陕西省自然科学基金

摘　　要：室温下测量了Ｂｉ２Ｓｒ２ＣａＣｕ２Ｏｙ－ｘＦｘ超导体的正电子寿命和掺Ｆ量的关系．结合临界温度Ｔｃ的测量．研究了Ｆ在样品中替换Ｏ的位置．以及由此引起的样品电子结构的变化．研究表明．当ｘ＝０．４时．Ｆ主要替换Ｓｒ－Ｏ面的Ｏ．并使Ｓｒ－Ｏ面的电子向Ｃｕ－Ｏ面和Ｂｉ－Ｏ层迁移。The positron lifetime was measured as a function of doped F content for Bi2Sr2CaCu2Oy-xFx superconductor.Combined with the measurement of critical temperature Tc, the sites where F substituted for O and the change of electronic structures caused by local substitution of F in the samples were studied.

关 键 词：超导体 铋系 正电子湮灭 氟掺杂 

分 类 号：O511.1[理学—低温物理]