正电子湮没率的Laplace逆变换分析及应用  

作　　者：唐政[1] 王采林[1] 王少阶[1] 

机构地区：[1]武汉大学物理系,武汉430072

出　　处：《科学通报》1994年第21期1949-1951,共3页Chinese Science Bulletin

基　　金：国家自然科学基金资助项目

摘　　要：正电子湮没寿命谱是研究凝聚态物理的一个有力手段,它能提供有关物质的电子结构,电荷密度分布,缺陷等许多有用的信息;已被广泛地应用于固体物理,化学及材料科学等许多领域.实验得到的寿命谱是随时间指数衰减的理想寿命谱与仪器分辨函数的卷积.从原始的实验数据中抽取出具有物理意义的信息,即正电子湮没寿命谱的分析,一直是一个十分困难的问题.传统的寿命分析方法通常需要假定正电子是从有限个状态湮没,从而将正电子寿命谱分解成为有限个指数衰减函数的和与仪器分辨函数的卷积:

关 键 词：正电子湮没率 超导体 拉普拉斯逆变换 高聚物 

分 类 号：O4[理学—物理]