布里奇曼法生长的Li_2B_4O_7晶体的X射线形貌观察  

X-ray Topographic Study on the Defects in Bridgman-grown Li_2B_4O_7 Crystal

作　　者：徐一斌 范世[1] 奚同庚[1] 杨平[1] 蒋树声 

机构地区：[1]中国科学院上海硅酸盐研究所,南京大学固体微结构实验室

出　　处：《人工晶体学报》1994年第1期67-71,共5页Journal of Synthetic Crystals

基　　金：南京大学固体微结构物理实验室课题

摘　　要：本文通过Ｘ射线衍射形貌术观察了布里奇曼法（ＢＲ）生长和加速坩埚旋转的布里奇曼法（ＡＣＲＴ－ＢＲ）生长的Ｌｉ＿２Ｂ＿４Ｏ＿７单晶中的缺陷。晶体中的缺陷以亚晶界和位错为主。同时结合晶体生长和晶体结构对缺陷的成因及消除方法进行了讨论。Defects in the Bridgman and accelerated crucible rotation technique-Bridgman(ACRT-BR)grown Li_2B_4O_7 single crystals have been observed by X-ray topography.Subboundaries and dislocations are the main defects in crystal.The origin of and the way to avoid them have been discussed in view of the crystal growth and structure.

关 键 词：Li2B4O7 布里奇曼法 晶体生长 

分 类 号：O614.111[理学—无机化学]