DO—35型微型玻封二极管—（G）2CK55可靠性分析  

作　　者：宋学民 王爱荣 

出　　处：《山东半导体技术》1994年第3期34-39,共6页

关 键 词：微型 玻封二极管 可靠性分析 硅二极管 

分 类 号：TN315.106[电子电信—物理电子学]