X射线探伤机参数综合检测仪的研制  

作　　者：张纪敏[1] 韩万斌 张圆月[1] 沈健[1] 蔡庆和 

机构地区：[1]中国测试技术研究院

出　　处：《实用测试技术》1994年第2期1-4,共4页Practical Measurement Technology

摘　　要：本文叙述一种用于对Ｘ射线探伤机的辐射参数进行检定测试的多参数综合检测仪。采用指形电离室为主测量电离室。透射型电离室为监督电离室。由８０３１微处理器根据键盘操作指令控制双道测量主机的不同工作状态。采用智能驱动器控制步进扫描架或半值层片架的移动。仪器测量能量范围：１００～４００ｋＶＸ射线；主电离室能响：≤±３％；不确定度：４％。可按照ＪＪＧ４０—９３《射线探伤机》国家计量检定规程对Ｘ射线探伤机检测；输出量、半值层、焦点、射束均匀场、辐射圆锥角、射束中心轴与几何中心轴偏离量等参数。

关 键 词：X射线探伤机 参数 检测仪 

分 类 号：TG115.281[金属学及工艺—物理冶金]