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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:方峰[1] 涂益友[1] 徐忠良[1] 于金[1] 蒋建清[1]
出 处:《理化检验(物理分册)》2005年第3期109-112,共4页Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)
基 金:国家863计划资助项目(2003AA331030);江苏省十五科技攻关资助项目(BE2003027)
摘 要:采用单试样法测试了用三种不同工艺生产的 SWRH82B高碳盘条的断裂韧性 JIC值,计算了材料的KIC值,并对珠光体层片间距进行了测定,探讨了其组织对断裂韧性 JIC值的影响。试验结果表明,SWRH82B高碳盘条的珠光体层片间距越细小,JIC值越大;SWRH82B高碳盘条的断裂韧性JIC为14.8~17.3kJ/m,KIC为56.0~60.5MPa/m1/2。To study the effect of microstructure of high carbon SWRH82B wire on fracture toughness, the mechanical property and the interlamellar spacing of pearlite were tested. Fracture toughness of SWRH82B was tested by the method of single specimen. Experimental results showed that: the smaller of the interlamellar spacing of pearlite, the higher of fracture toughness J_(IC). The fracture toughness of SWRH82B is J_(IC)=(14.8-17.3)kJ·m^(-2), and K_(IC)=(56.0-60.5)MPa·m^(-1/2).
分 类 号:TG142.31[一般工业技术—材料科学与工程]
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