HL-2A装置等离子体边缘的单探针快采测量  

作　　者：潘宇东 洪文玉 王恩耀 严龙文 钱俊 

出　　处：《核工业西南物理研究院年报》2003年第1期4-6,共3页Southwestern Institute of Physics Annual Report

摘　　要：托卡马克装置等离子体边缘和刮离层(SOL)物理的实验和理论研究是目前聚变装置中等离子体的杂质含量、杂质源分布以及SOL和芯部等离子体中各种杂质输运过程研究的重要课题之一。等离子体表面相互作用导致杂质的产生和随后杂质传输以及对芯部等离子体的污染。在孔栏和偏滤器靶板表面上易产生的离子通量的电荷态和能量通过物理贱射是确定杂质释放大小的最重要因素，而化学贱射是取决于表面形成的元素、碰撞的等离子体和表面温度。杂质传输强烈地取决于刮离层等离子体的背景特征，如温度、密度、传输效率和流速。

关 键 词：HL-2A 等离子体 单探针快采测量 杂质传输 化学贱射 

分 类 号：TL612[核科学技术—核技术及应用]