检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]江苏大学电气信息工程学院,江苏镇江212013
出 处:《半导体技术》2005年第4期36-40,共5页Semiconductor Technology
摘 要:以电荷泵锁相环为对象,提出了针对电荷泵锁相环各个模块的不同测试方法,着重论述了如何在一个完整的测试方案中把不同的测试方法结合起来——即采用电荷泵锁相环的全数字可测试性设计(D F T )法。这种测试方法简单、成本较低,具有较高的开发价值。This work puts forward different kinds of testing methods for different models of the charge pump phase-locked loop and strongly describes how to combine the various tests into a unified strategy-all-digital DFT(design-for-test) testing analysis for charge pump phase-locked loop. This kind of testing is simple and economical, so it is highly worth of investigating.
分 类 号:TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]
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