基于数字滤波技术的红外焦平面非均匀校正算法  

作　　者：甄德根[1] 吴志明[1] 杨砚[1] 蒋亚东[1] 

机构地区：[1]电子科技大学教育部新型传感器重点实验室，四川成都610054

出　　处：《半导体光电》2005年第B03期143-145,共3页Semiconductor Optoelectronics

摘　　要：提出了一种基于数字滤波技术的非均匀校正新算法。分析了应采用的滤波器结构，滤波器阶数的确定方法以及期望响应的提取方式等关键问题。并在此基础上提出了信号处理的解决方案，该方案具备良好的实时性。

关 键 词：数字滤波 WIENER滤波 非均匀校正 红外焦平面阵列 

分 类 号：TN21[电子电信—物理电子学]