一种可以提高热光开关阵列可靠性的驱动电路的设计(英文)  

An Improved Driving Circuit for Thermo-Optical Switch to Improve the Reliability of Thermo-Optical Switch Matrix

作　　者：李运涛[1] 陈少武[1] 余金中[1] 

机构地区：[1]中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室,北京100083

出　　处：《电子器件》2005年第1期158-160,共3页Chinese Journal of Electron Devices

基　　金：国家自然科学基金重大基金项目(No 60336010);973项目(No G2000 0366);863项目(No2002AA312060)。

摘　　要：分析了加热器对热光开关阵列可靠性的影响并在此基础上提出了一种改进的驱动电路,使4×4 简化树形结构的光开关的阵列的可靠性从78.87%提高到97.04%。模拟及实验结果表明该控制和驱动电路可以为热光开关阵列提供适当的驱动电流。The influence of the heaters on the reliability of the thermo-optic (TO) switch matrix is analyzed and an improved driving circuit based on the analyzed results is designed and fabricated. The circuit can improve the reliability of the switch matrix device from 78.87% to 97.04% for a 4×4 optical switch device with a simplified tree structure. The simulation and experimental results show the circuit can provide suitable driving current for TO switch matrix.

关 键 词：驱动电路 热光开关阵列 可靠性 

分 类 号：TN43[电子电信—微电子学与固体电子学] TP331.2[自动化与计算机技术—计算机系统结构]