原子力显微镜在高分子领域的应用进展  

Application progress of atomic force microscope to polymer science

作　　者：董炎明[1] 毕丹霞[1] 陈江溪[1] 

机构地区：[1]厦门大学材料科学与工程系,福建厦门361005

出　　处：《商丘师范学院学报》2005年第2期6-12,共7页Journal of Shangqiu Normal University

基　　金：国家自然科学基金(20374041);福建省自然科学基金(E0310002);福建省重点科技项目(2004I006)

摘　　要：原子力显微镜(AFM)是在扫描隧道显微镜(STM)基础上发明的又一种纳米级高分辨率显微技术,目前已在高分子领域获得了广泛的应用.AFM无需对样品进行任何预处理即可对各种材料进行微观区域的表面形貌及机械性能探测,或者直接进行纳米操纵.本文则从表征聚合物聚集态、物理性质、分子量及其分布等几个方面综述了当前AFM应用于高分子材料研究的最新进展和新技术.Atomic force microscope (AFM) was invented as another nanoscale microscopy with high resolution based on scanning tunneling microscope(STM)and has extensive application in polymer field. AFM allows not only visualization of surface morphology and investigation of mechanical properties, but also nanoindentation and modification without any special sample treatment. This paper reviews some recent advances and new techniques of the application of AFM to polymer science.

关 键 词：原子力显微镜 高分子 

分 类 号：O631[理学—高分子化学]