大规模数字集成电路标准矩阵功能测试新方法  

A Novel Method of Standard Matrix Function Testing for Large Scale Digital Integrated Circuits

作　　者：徐拾义[1] 

机构地区：[1]上海大学计算机学院,上海200072

出　　处：《计算机工程与科学》2005年第4期31-35,91,共6页Computer Engineering & Science

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60173029);上海市教委第四期重点学科资助项目

摘　　要：本文提出了一种对 VLSI电路功能测试的方法,可以同时检测和定位 VLSI电路输入和输出端上的固定故障和桥接故障,而不需要知道它们的内部逻辑结构。因而,对于简化测试过程、降低测试成本, 具有十分重要的实际意义。This paper proposes a method for VLSI fun ction testing,which can simultaneously detect and locate the stuck-at faults of VLSI’s input/output pins and bridging faults without knowing their internal logic structures.Thus the method features significance in simplifying test process and reducing test cost.

关 键 词：大规模数字集成电路 VLSI 列交换算法 标准矩阵 功能测试 

分 类 号：TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]