采用塞曼效应仪测定电子荷质比方法研究  

Study on the Electronic Charge-mass Ratio Measurement Methods by Zeeman Effect Instrument

作　　者：王健[1] 邹红林[1] 韩姝[1] 

机构地区：[1]沈阳化工学院,辽宁沈阳110142

出　　处：《计量与测试技术》2005年第3期8-9,11,共3页Metrology & Measurement Technique

摘　　要：依据光源发出光谱线在外磁场作用下分裂为多条谱线的事实 ,通过采用塞曼效应两种测量方法 -拍照法和目测法对电子荷质比进行测定 ,分析测量方法与测量结果的关系。

关 键 词：电子荷质比 塞曼效应 测定 测量方法 磁场作用 光谱线 目测法 分裂 

分 类 号：TH73[机械工程—仪器科学与技术]