存储器的测试技术  

Testing Techniques for Memories

作　　者：王健[1] 李金凤[1] 边福强[1] 刘欢[1] 

机构地区：[1]沈阳化工学院信息工程学院,辽宁沈阳110142

出　　处：《计量与测试技术》2005年第4期25-26,共2页Metrology & Measurement Technique

摘　　要：集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器,字存储器,多端口存储器及存储器组的测试。测试算法和测试策略要在测试时间,故障覆盖率,面积开支之间进行折衷。

关 键 词：测试技术 集成电路工艺 多端口存储器 故障覆盖率 故障模型 测试时间 测试策略 测试算法 

分 类 号：TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构]