纳米TiO_2薄膜的带宽研究(英文)  

Investigation on Bandgap Width of Nanometer TiO_2 Thin Films

作　　者：顾广瑞[1] 金逢锡[1] 陶影[2] 李全军[1] 李哲奎[1] 金哲[1] 赵永年[3] 郑伟涛[3] 金曾孙[3] 

机构地区：[1]延边大学理工学院物理系,吉林延吉133002 [2]吉林师范大学应用工程学院,吉林四平1360003 [3]吉林大学超硬材料国家重点实验室,吉林长春130012

出　　处：《光散射学报》2005年第1期16-18,共3页The Journal of Light Scattering

基　　金：国家863项目No:2 0 0 2AA3 0 5 5 0 7)~~

摘　　要：利用磁控溅射方法制备了纳米TiO2 薄膜,通过Raman光谱和UV Vis光谱讨论了TiO2 薄膜的带宽随着厚度变化的规律。随着薄膜厚度的增加,TiO2 薄膜的带宽变窄。The TiO_2 films were prepared on Si (100) substrates by RF magnetic sputtering PVD. The bandgap width of nanometer TiO_2 thin films was investigated by using Raman spectra and Ultraviolet-visible (UV-Vis) Spectra. The bandgap width of TiO_2 thin films narrows with the increase of thickness due to nano-effects of nanometer thin films.

关 键 词：纳米TIO2薄膜 RAMAN光谱 UV-VIS光谱 带宽 

分 类 号：O647.2[理学—物理化学]