探测器/杜瓦组件热负载自动测试系统及其应用  

Thermal Load Automatic Testing System and Application of Detector/Dewar

作　　者：田立萍[1] 朱颖峰[1] 魏东红[1] 肖徽山[1] 

机构地区：[1]昆明物理研究所,云南昆明650223

出　　处：《红外技术》2005年第3期257-259,共3页Infrared Technology

摘　　要：热负载是决定探测器/杜瓦组件与制冷机适配性能的重要指标之一,也是间接判断探测器/杜瓦组件内部真空度的手段。为适应批量生产的测试要求,我们建立了热负载自动测试系统。Thermal load is a important parameter vacuum quality of Detector/Dewar which decidescooperation performance of Detector/Dewar and Cooler. To adapt to the test of batch production,weestablished the thermal load automatic testing system.

关 键 词：自动测试系统 热负载 探测器 组件 杜瓦 应用 测试要求 批量生产 制冷机 真空度 适配 

分 类 号：TN919.2[电子电信—通信与信息系统] TP274[电子电信—信息与通信工程]