TMX2000型原子力显微镜(AFM)力的标定  

Force Calibration of TMX 2000 Atomic Force Microscopy

作　　者：高芒来[1] 聂时春[2] 张嗣伟[3] 

机构地区：[1]中国石油大学化工学院,北京102249 [2]中国石化长城润滑油集团有限公司,北京100085 [3]中国石油大学机电学院,北京102249

出　　处：《仪器仪表学报》2005年第5期528-529,541,共3页Chinese Journal of Scientific Instrument

基　　金：国家自然科学基金(50175076);重质油加工国家重点实验室开放课题(2002-05)资助项目。

摘　　要：根据针尖的形状和各项参数进行了TMX2000型原子力显微镜载荷、粘附力、法向力、横向力及其摩擦力的标定。其标定结果为载荷Fl=0.073×(Ilm-Il0)/Sn×N·m-1,横向力Ft=0.156×It/Sn×N·m-1,摩擦力Ff=0.078×(It+-It-)Calibrations of loading, adhesive, normal, lateral, and frictional force of TMX 2000 (TopoMetrix)AFM are presented according to tip shape and its parameters. The result is shown as follows. Loading force: Fl=0.073 ×(Ilm-Il0)/Sn×N · m-1, lateral force: Ft=0.156×It/Sn×N · m-1, friction force: Ff=0.078×(It+-It-)/ Sn ×N·m-1.

关 键 词：原子力显微镜(AFM) X2000型 TM 标定结果 摩擦力 横向力 粘附力 法向力 Sn 载荷 

分 类 号：TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术] U270.331[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]