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作 者:杨文香[1] 贾璇[1] 闫红飞[1] 魏新燕[1] 刘大群[1] 孟庆芳[1] 张汀[1]
机构地区:[1]河北农业大学植物病理系河北省农作物病虫害生物防治工程技术研究中心,河北保定071001
出 处:《河北农业大学学报》2005年第2期67-70,共4页Journal of Hebei Agricultural University
基 金:国家自然科学基金资助项目(30170602)
摘 要:利用AFLP技术借助于小麦抗叶锈近等基因系和TcLr44×ThatcherF2代分离群体材料,获得4个Lr44的分子标记,分别为Paag:Mcta300,Paac:Mcgt85,Paag:Mcta395和Paac:Mcgt90,与目的基因的遗传距离分别为0 01cM、1 1cM、3cM、2 2cM和2 8cM,为分子辅助育种、构建密集的遗传图谱、克隆Lr44以及研究基因编码特性等奠定基础。Four molecular markers linked to Lr44 resistance to wheat leaf rust at seedling stage were identified using AFLP, near-isogenic lines (NIL) and F_2 progeny from a cross of Thatcher, a susceptible line, with Lr44 NIL in Thatcher background. The genetic map showed that the distances between Lr44 and markers: Paag:Mcta_(300), Paac:Mcgt_(85), Paag:Mcta_(395), Paag:Mcgt_(90) was 0.01 cM, 1.1 cM, 3 cM, 2.2 cM, and 2.8 cM, respectively. The identification of AFLP markers linked to Lr44 facilitates establishment of the higher density genetic map, wheat marker-assisted selection breeding program and eventual cloning and characterization of the gene encoding resistance to wheat leaf rust.
关 键 词:小麦叶锈病 抗病基因 分子标记 AFLP Lr44
分 类 号:S432[农业科学—植物病理学]
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