煅烧温度对Sn（Sb）O2包覆TiO2导电粉性能的影响  

作　　者：彭光怀[1] 冉青荣[1] 陈丹[1] 王剑华[1] 郭玉忠[1] 

机构地区：[1]昆明理工大学新材料制备与加工重点实验室，昆明650093

出　　处：《材料导报》2004年第F10期327-329,共3页Materials Reports

摘　　要：采用共沉淀法在亚微米级二氧化钛表面包覆Sn(Sb)O2，制得二氧化钛导电粉。用XRD、XPS、TG—DSC等测试手段对粉体进行了分析，讨论了不同煅烧温度对导电二氧化钛粉体的表面元素的变化、物相、体积电阻率的影响及原因。

关 键 词：煅烧温度 导电粉 TIO2 性能 二氧化钛粉体 体积电阻率 表面包覆 亚微米级 共沉淀法 测试手段 表面元素 XRD XPS DSC 

分 类 号：TB383[一般工业技术—材料科学与工程] TQ134.11[化学工程—无机化工]