TLA V5．0应用软件带来业界第一套自动测试功能  

出　　处：《电子工业专用设备》2005年第6期72-72,共1页Equipment for Electronic Products Manufacturing

摘　　要：鉴于串行数据结构所具备的更高数据传输速率和更多样的信号格式，整个业界正逐步向串行架构转变，随之而来的是设计人员对逻辑分析仪所提出的更为苛刻的要求。当今的工程设计人员所面临的挑战在于他们需要在更短的时间内解决各种前所未见的串行数据测试问题从而将产品更快地投放市场，在这种情况下，他们需要一套全新的功能以应对这一挑战。

关 键 词：自动测试功能 应用软件 V5.0 TLA 高数据传输速率 工程设计人员 逻辑分析仪 信号格式 数据结构 投放市场 数据测试 串行 架构 

分 类 号：TP317[自动化与计算机技术—计算机软件与理论] V243[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]