时域荧光寿命显微镜  

作　　者：罗山 

出　　处：《激光与光电子学进展》2005年第6期62-62,共1页Laser & Optoelectronics Progress

摘　　要：法国研究者基于定制的皮秒激光器研制出一种时域荧光寿命(FLIM)显微镜，其激光源是一种低重复率(3．7MHz)被动锁模二极管抽运Nd：YVO4基激光器。对激光输出进行倍频或三倍频，可容易地产生532nm或355nm光，平均功率为几十毫瓦。此两个波长可以覆盖很宽的本征荧光团范围及通常使用的远高于1mW的入射功率。由于荧光强度测量可以在激发脉冲照射后250ns进行，可测量寿命也有所增加。

关 键 词：荧光寿命 显微镜 时域 Nd:YVO4 皮秒激光器 二极管抽运 光强度测量 被动锁模 激光输出 平均功率 入射功率 激发脉冲 重复率 激光源 三倍频 荧光团 本征 波长 

分 类 号：TN248.1[电子电信—物理电子学] TQ171.112[化学工程—玻璃工业]