检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]石油大学(华东)物理科学与技术学院,山东东营257061 [2]南京气象学院电子工程系,江苏南京210044
出 处:《红外与激光工程》2005年第3期277-280,共4页Infrared and Laser Engineering
基 金:国家科技攻关计划(2001BA610A);国家自然科学基金资助项目(40275010)
摘 要:在45°镜多元并扫系统中,波段在焦平面的位置直接影响扫描结果。研究了45°镜多元并扫波段并扫探测器数、波段在焦平面的位置等参数对扫描结果的影响,分析了各参数的变化引起的图像畸变程度,给出了45°扫描镜阵列探测器排放的要求。In the system of 45° multi-parallel scanning, the position of the wave bands on the focal plane will effect the scanning result directly. The influence of the detector number of wave band and the position of the wave bands on the result is studied. The aberrance degree of scanning image aroused by the change of the parameter is analyzed. In the end, the demand of placing the detector is presented.
分 类 号:TP73[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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