Al_2O_3对CAS系统微晶玻璃残余应力的影响  

作　　者：程金树[1] 龙欣江[1] 谢俊[1] 杨淑珍[1] 

机构地区：[1]武汉理工大学

出　　处：《国外建材科技》2005年第3期1-3,共3页Science and Technology of Overseas Building Materials

基　　金：国家自然科学基金(50272043);湖北省自然科学基金(2002AB077);武汉理工大学硅酸盐材料教育部重点实验室基金(SYSJJ2002-08).

摘　　要：Al2O3对CaO-Al2O3-SiO2系统微晶玻璃的烧结和析晶性能有较大的影响,从而影响微晶玻璃的残余应力。X射线衍射法对于残余应力测定有很多的优点。运用X射线衍射法测定了CaO-Al2O3-SiO2系统微晶玻璃的残余应力,研究了CaO-Al2O3-SiO2系统微晶玻璃的Al2O3含量对残余应力的影响:微晶玻璃中的残余应力随Al2O3的含量增加而减小。

关 键 词：微晶玻璃 残余应力 X射线衍射法 AL2O3 CAS系统 

分 类 号：TQ171[化学工程—玻璃工业]