玉米SSR连锁图谱构建及抗纹枯病基因定位  

Quantitative trait loci mapping of resistance to banded leaf and sheath blight in maize

作　　者：赵茂俊 [1] 张志明 [1] 张世煌 [2] 李晚忱 [1] Maria Luz C.George  潘光堂 [1] 

机构地区：[1]四川农业大学玉米研究所,四川雅安,625014 [2]中国农业科学院,北京,100081 [3]国际玉米小麦改良中心

出　　处：《高技术通讯》2005年第5期71-76,共6页Chinese High Technology Letters

基　　金：国家高技术研究发展计划(863计划)，亚洲玉米生物技术协作网基金

摘　　要：以玉米自交系R15(抗)×478(感)的F2分离群体(229个单株)为作图群体,构建了包含146个SSR标记位点的遗传连锁图谱,覆盖玉米基因组1666 cM,平均图距11.4 cM.通过麦粒嵌入法对229个F2∶4家系进行人工接种纹枯病菌,并采用相对病斑高(绝对病斑高除以穗位高)划分病级标准进行玉米纹枯病的抗性鉴定.应用复合区间作图法分析抗病QTL(数量性状基因座位)及遗传效应.结果共检测到6个抗性QTL,分别位于第2、6、10染色体上,与标记Umc2110、Bnlg1606、Umc2110、Bnlg1538、Umc1257和Phi054连锁,各自可解释表型变异的10.35%、4.09%、8.33%、 5.18%、5.12%和4.18%.这些抗性QTL与控制株高和穗位高的基因之间表现为独立遗传.

关 键 词：SSR 基因定位 图谱构建 数量性状基因座位 复合区间作图法 遗传连锁图谱 玉米自交系 玉米纹枯病 QTL 作图群体 分离群体 标记位点 纹枯病菌 人工接种 抗性鉴定 遗传效应 表型变异 穗位高 基因组 嵌入法 染色体 F2 病斑 

分 类 号：S513[农业科学—作物学] S511