A/D电路静态测试原理分析及一种测试系统简介  

作　　者：刘义兵 

机构地区：[1]中国兵器工业第214研究所,蚌埠233042

出　　处：《集成电路通讯》2005年第2期41-44,共4页

摘　　要：介绍了常用高速A/D电路的静态测试原理,并对测试系统的电路结构和工作原理进行了相关描述。

关 键 词：A/D电路 测试系统 原理分析 静态测试 简介 测试原理 工作原理 电路结构 

分 类 号：TP335.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构] TP274[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]