多孔硅的微结构和喇曼光谱  

The Microstructure and Raman Spectrum of Porous Silicon

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作  者:汪开源[1] 徐伟弘[1] 毛兆荣 刘柯林[1] 唐洁影[1] 

机构地区:[1]东南大学电子工程系

出  处:《固体电子学研究与进展》1994年第2期147-150,共4页Research & Progress of SSE

摘  要:多孔硅(PorousSilicon)是晶体硅于氢氟酸溶液中在硅衬底上形成的多孔态的硅材料。PS可见光区的强烈光辐射使其成为世界范围的研究焦点。本文用电化学方法制得了PS结构,扫描电子显微镜(SEM)的结果表明PS是一个硅的毫微结构量子线的网络,光致发光(PL)谱表明PS发可见红光,而喇曼光谱显示一个在516cm(-1)附近的非对称峰,说明PS是一种新型的硅材料。Porous Silicon (PS)is a porous morpholgical form of silicon formed on the crystalline Si substrate by anodization in HF solution. The intensively visible lightemission from PS layer made it becoming the world-wide research point. In this paper,we review what we have done about the PS. Using electrochemical dissolution,we have obtained the PS structure. The result of SEM showed that PS is a quantum wire network of Si nanostructure,PL spectrum showed that PS emits visible red light, and the Raman spectrum indicated an asymmetric peak near 516 cm(-1). This means PS is a new type material of Si.

关 键 词:多孔硅 喇曼光谱 微结构  

分 类 号:TN304.12[电子电信—物理电子学]

 

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