智能型数字集成电路测试仪  

作　　者：陈月魁[1] 冯长江[1] 娄建安[1] 

机构地区：[1]军械工程学院

出　　处：《实验技术与管理》1994年第1X期19-21,共3页Experimental Technology and Management

摘　　要：随着微电子技术的飞速发展和中、大规模集成芯片的应用,数字电子技术实验教学内容迅速更新与扩大,数字集成电路芯片的检测也日益需要,为配合实验教学工作,我们研制了智能型集成电路测试仪。

关 键 词：智能型 数字集成电路 测试仪 

分 类 号：TN431.207[电子电信—微电子学与固体电子学]