多层微带线S参量模拟研究  被引量:1

A Simulation Study on S Parameters of Mutilayer Striplines

在线阅读下载全文

作  者:张金玲[1] 杨金生[2] 

机构地区:[1]北京邮电大学电子工程学院,北京100876 [2]北京真空电子技术研究所大功率实验室,北京100016

出  处:《真空电子技术》2005年第3期7-8,12,共3页Vacuum Electronics

摘  要:利用CST Microwavestudio对多层微带线的S参量进行了仿真模拟,以微带线的线条宽度为参量考察了微带线的传输及反射特性,并对模拟结果进行了分析。Using CST Microwave studio, S parameters of mutilayer striplines were simulated in this study, while transmission and reflection characteristics of the striplines were examined in terms of parameters of the line width. The simulation results were also analyzed.

关 键 词:微带线 S参量 仿真模拟 

分 类 号:TN015[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象