医用诊断X射线剂量探测技术概述  

Introduction of diagnose X-ray dose testing technology

作　　者：杨勇[1] 张圆月[1] 刘志宏[1] 刘萍 

机构地区：[1]中国测试技术研究院,四川成都610021 [2]扬州市质量技术监督局,江苏扬州250002

出　　处：《中国测试技术》2005年第4期94-96,共3页CHINA MEASUREMENT & TESTING TECHNOLOGY

基　　金：科技部科技基础性工作专项资金项目(2000年第69号)

摘　　要：本文介绍了诊断X射线剂量检测方法,重点论述了其中的关键--基于电离室和半导体技术的辐射剂量探测原理,传感器结构、用途以及各自的特点,对测量不同对象和参量探测器的选择提出了参考意见。本文还提出了近年发展起来的新技术———复合探测器概念以及在诊断X射线质量保证技术上的优势,提出了X射线探测器发展趋势。This paper introduces the testing method of diagnose X-ray dose , and discusses the chamber and semiconductor used in X-ray detector theory , structure and it's characteristics.How to select detector for each measure have been suggested.A new detector mix chamber and semiconductor can be used test kV、mA、exposure time、dose and doserate of X-ray unit discribes subsequently.

关 键 词：诊断X射线 电离室 半导体探测器 

分 类 号：R814.2[医药卫生—影像医学与核医学]